纳秒脉冲放电下C5H12裂解和低温氧化机理研究

摘要

本文结合数值模拟和实验测量对反应器压力为60Torr时纳秒脉冲放电下C5H12裂解和低温氧化机理进行了研究.采用数值模拟的方法对等离子体助燃C5H12进行预测,通过原位激光吸收光谱技术(TDLAS)对C5H12裂解和氧化过程中温度、关键基团OH和产物(CH2O、H2O、CH4和C2H2)随时间变化进行测量,结合测量结果对C5H12裂解和氧化条件下的消耗路径进行分析.结果表明,裂解条件下C5H12在主要通过电子碰撞反应消耗,模拟结果呈现线性递减的趋势;氧化条件下,C5H12的消耗路径由放电反应初期的电子和O(1D)作用逐渐转变为通过OH消耗.