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利用红外光谱仪测定薄膜折射率

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本文介绍利用红外光谱仪测量薄膜红外波段折射率的方法.在红外光线透过薄膜时,发生等倾干涉,这将导致红外吸收谱基线的波动.通过测量红外透射谱基线波动规律,根据薄膜干涉原理计算已知厚度薄膜的折射率.

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来源
《第七届全国高等学校物理实验教学研讨会》|2012年|268-271|共4页
会议地点成都
作者
SONG Ze-yi; 宋泽毅; ZHANG Hao-nan; 张皓南; ZHENG Fei-hu; 郑飞虎;
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作者单位

中国高等学校实验物理教学研究会;

教育部高等学校物理学与天文学教学指导委员会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类薄膜测量与分析;
关键词
薄膜测量; 折射率; 红外光谱仪; 等倾干涉;

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