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SRAM型FPGA空间应用的容错设计方法

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基于SRAM型FPGA容易受到空间辐射环境引起的SEU单粒子事件的影响,造成FPGA逻辑错误和功能中断,因此空间应用时必须进行FPGA的抗SEU加固设计,提高FPGA空间应用的可靠性.本文介绍了几种FPGA的可靠性设计方法,包括三模冗余设计、动态刷新设计和FPGA在轨动态重构设计.

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来源
《2013年航天可靠性学术交流会》|2013年|423-426|共4页
会议地点北京
作者
胡洪凯; 施蕾; 冯丹; 董暘暘; 孙强;
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作者单位

中国宇航学会;

中国航天科技集团公司;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类电子设备;
关键词
星载电子电子设备; 现场可编程门阵列; 容错设计; 产品可靠性;

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