一种基于BRAM检测的动态自适应SRAM型FPGA系统容错方法

摘要

本发明涉及一种基于BRAM检测的动态自适应SRAM型FPGA系统容错方法，属于智能容错系统领域，包括下列步骤：1)在SRAM型FPGA上划分可重构区域和静态区域；2)对FPGA上的部分动态重构区域构造融合无冗余到多冗余的动态自适应结构；3)设计基于BRAM内嵌块SEU率检测结构，进行故障计数并检测修正错误；5)计算当前翻转率，判断需要采取的冗余方案；6)通过FPGA系统的控制单元实施冗余方案；7)对自适应FPGA系统的可用度和性能进行计算与评价。本发明综合考虑FPGA实际应用中的情况，权衡可用性与性能资源的矛盾，根据预计的辐射水平(SEU率)，动态改变FPGA系统的自适应冗余结构，提高了系统执行任务时的效率，降低了系统在没有故障时的功耗，具有良好的移植性。