基于高光谱图像技术的猕猴桃硬度品质检测

摘要

高光谱图像技术是能够准确地对水果内部品质进行无损检测的新型技术.本文采用632nm的连续波激光作为激发光,应用激光诱导荧光高光谱成像技术来对猕猴桃硬度进行无损测量。将该激光照射到猕猴桃样品上,用高光谱图像采集系统收集得到诱导出的荧光散射图像.并对荧光散射图像进行分析,选取30×150像素的荧光区域作为感兴趣区域(ROIs).再提取感兴趣区域在波长200～800nm范围内的光谱值作为荧光高光谱图像数据.最后建立荧光高光谱图像数据预测果实硬度的预测模型.结果表明,该模型预测猕猴桃硬度的相关系数为R=0.898.因此利用高光谱图像技术预测猕猴桃的内部品质是可行的,初步试验结果为今后应用高光谱图像对其它水果进行内部品质的无损检测提供了依据.