混合集成电路几种典型失效与改进措施

摘要

国产混合集成电路经过几年的现场使用，发生五种典型失效，且失效比较大，如半导体芯片体内缺陷、独石电容在再流焊后容量变化、金铝键合点键合强度退化、大功率大腔体电路基板裂纹、使用不当等。