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镀铝薄膜表面半球发射率测量

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在航天器上广泛使用的镀铝薄膜表面具有极低半球发射率,它们的数值范围变化较大,约为0.03~0.10,采用通用标准方法,难以测准,本文介绍了高精度的测量方法与装置,精确测定了不同批次的国产与进口镀铝薄膜半球发射率,为航天器热分析计算与镀铝薄膜材料国产化,提供了准确数据,得出了结论意见.

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来源
《第五届空间热物理会议》|2000年|340-344|共5页
会议地点黄山
作者
程大义; 徐济万;
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作者单位

中国宇航学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类材料试验及检验;
关键词
镀铝薄膜; 半球发射率测量; 稳态法; 瞬态测量法;
入库时间 2022-08-17 10:25:29

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