表面の半球反射率と垂直放射率の同時測定のための広波長域高速ふく射スペクトル測定装置の開発

摘要

熱工学における固体の熱ふく射性質の研究では，実rn在表面についてのスペクトル実験が重要である．実在rn表面の微視状態は多様であり，時々刻々にも変化し，rnふく射性質はその状態に敏感に応じて変化する．そのrnふく射性質は，熱工学の目的に応じて可視～赤外の広rnい波長域にわたって研究されるべきである．rn著者らは，広波長域高遠ふく射スペクトル測定装置rnを開発し，0.30～11μmの波長域で垂直入射鏡面反射rn方向反射率R_(NN)と垂直放射率ε_Nのスペクトルを2srnごとに同時にくり返し測定することを可能にした．rnこの装置を用いて，実在表面のふく射現象のダイナミrnックスを明らかにし，表面の温度と微視構造の変化rnを実時間ふく射診断する手法を開発し，あるいは，rn熱光電発電のための分光機能性表面の開発の可能性をrn示唆して，熱工学のふく射性質研究の方向を示しrnた．