首页> 中文会议>全国第三届航空航天装备失效分析会议 >破坏性物理分析(DPA)--提高电子装备可套性的重要手段

破坏性物理分析(DPA)--提高电子装备可套性的重要手段

摘要

介绍了DPA(Destructive Physical Analysis)的概念、内容,航天系统开展DPA的过程及所取得的成效,进一步阐述了DPA及与失效分析相结合,对于提高电子装备半导体器件可靠性具有重要意义。

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