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界面态对HEMT器件的影响

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本文通过对相同界面态对三种纵向结构的HEMT器件可靠性的影响和不同界面态对同一器件直流跨导影响的仿真,比较常规型(HEMT)、赝型(PHEMT),双异质结型(DHEMT)的可靠性,并且针对可靠性最好的PHEMT给出直流跨导随界面态密度的衰变曲线.

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来源
《中国电子学会第十届青年学术年会》|2004年|617-620|共4页
会议地点北京
作者
宋迪; 李志国; 蔡晓丹;
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作者单位

中国电子学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类可靠性及例行试验 ; 半导体三极管（晶体管） ;
关键词
半导体器件可靠性; 直流跨导; 界面态密度;

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