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一种诊断芯片内部逻辑故障的边界扫描方法

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本文根据芯片内部逻辑设计测试向量和理论响应向量,通过边界扫描结构将测试向量送到内核,并且采集内核输出的逻辑向量响应,比较采集到的逻辑响应向量与理论响应向量之间的差异,对出现异常的逻辑实现诊断.向量的输入和采集与外围电路无关,结果分析由软件实现,测试时间短,故障诊断率高.

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来源
《中国电子学会第十届青年学术年会》|2004年|596-599|共4页
会议地点北京
作者
李源; 蔡慧敏; 周鲍毅; 高飞;
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作者单位

中国电子学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类运算器和控制器（CPU）;
关键词
边界扫描; 内部逻辑故障; 故障诊断;

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