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一种用采用边界元方法的芯片级热分布分析算法(英文)

         

摘要

现代芯片技术在集成度和速度方面的进步带来一系列热相关的问题 ,非均匀分布热源引起的局部热点很可能会使整个芯片失效 .提出一种计算芯片温度分布的算法 ,采用边界元方法将三维问题转化为二维问题 ,这样可以快速计算出芯片边界和内部的温度分布 .适用于对 VL SI芯片进行热评估 .

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