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厚膜电阻例行可靠性实验噪声特性研究

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本文通过厚膜电阻器例行可靠性实验中噪声测量和分析,与常规测量参数的对比,探讨了噪声用于厚膜电阻器例行可靠性实验表征的可行性.

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来源
《第十四届全国混合集成电路学术会议》|2005年|429-433|共5页
会议地点安徽黄山
作者
刘帅洪; 仵建平; 吴勇; 杜磊;
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作者单位

中国电子学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类厚膜混合集成电路（厚膜电路）;可靠性及例行试验;
关键词
集成电路; 厚膜电阻; 噪声测量; 可靠性分析;
入库时间 2022-08-17 10:49:40

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