基于XML的半导体测试参数提取方法

摘要

在半导体产品生产中,测试分选是生产工艺中的一个重要环节。针对目前半导体产品测试中存在的测试参数繁多、经验选择的不确定性等问题,研究了基于粗糙集理论的半导体测试参数提取的新方法,建立了半导体产品质量信息表达的XML模式,具体解决了三极管测试参数的选择问题,提高了半导体产品的测试效率,并在实践中得以验证

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