星用电子元器件辐射可靠性研究

摘要

抗辐射加固设计是可靠性设计的重要内容之一,本文首先提出了抗辐射加固总体优化设计的技术途径,然后引入"辐射可靠性"的概念,阐述了辐射可靠性与器件抗辐射性能之间的量化关系,在此基础上提出了器件抗辐射性能指标分配方法,为设计师的抗辐射加固优化设计工作提供了初步的技术依据。