CT41L-1812-2Cl-50V-474K型片式瓷介电容器开裂失效分析

摘要

两台电源模块上相同印制板上的两只片式瓷介电容器均发生了短路，并导致各自的负载三极管烧毁。为了确定上述失效现象的失效模式、失效机理，采用了以下试验方法进行分析：调查电容器的服役历史和使用条件;用金相法和扫描电镜对电容器的断口和组织进行分析;采用有限元法对电容器在印制板上的受力进行计算模拟;采用验证试验确认上述试验分析和理论分析的正确性。结果发现：(1)电容器击穿短路是由于电容器产生了裂纹，不同极性的电极沿裂纹迁移短路击穿;(2)电容器受到弯矩作用是由于印制板间的引线束过粗，卡在印制板上，使得印制板产生翘曲。根据分析提出的针对性改进措施是改进引线束的捆扎方式来避免印制板产生翘曲。