基于NINO芯片的TOT读出电子学系统的研究

摘要

本文介绍了CERN设计的一款基于过阈时间法(Time-Over-Threshold)的ASIC芯片--NINO，并列出了一些基于NINO芯片设计的测试板的测试结果，用于评估该芯片在BESⅢ端盖TOF升级及在中子管位置灵敏探测器中的位置测量中应用的可能性。NINO芯片8通道高度集成，对实验电路板的设计和测试表明，其噪声抖动低(前沿噪声抖动约5.1ps)，可以满足TOT方法中高精度时间测量的要求。