首页> 中文会议>2010年中国电子制造技术论坛 >SPC用于金丝键合质量控制的研究

SPC用于金丝键合质量控制的研究

摘要

金丝键合是MCM多芯片模块微组装的关键工序。本文概述了SPC(统计过程控制)用于金丝键合质量的控制研究状况。主要对金丝键合前键合规范校验的10根金丝键合拉力情况进行统计分析,得出了金丝键合操作人员与设备间的适应性结论,有助于操作人员提高键合技能和保持稳定的工作状态,优化配置设备和人员,以及稳定多芯片模块产品微组装的键合质量。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号