BS 10/30211454 DC BS EN 62047-13. Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Part 13. Bend- and shear- test methods of measuring adhesive strength for MEMS structures

英国标准EN 62047-13 半导体器件 微型机电设备 第13部分 测量MEMS结构粘接强度的弯曲和剪切试验方法

基本信息

标准号
BS 10/30211454 DC
标准状态
现行
发布单位或类别
英国-英国标准学会(GB-BSI);
发布日期
-
实施日期
-
废止日期
-
CCS分类
-
ICS分类
-

研制信息

起草单位
- 展开▼
起草人
-
归口单位
-

摘要

Cross References:IEC 62047-2All current amendments available at time of purchase are included with the purchase of this document. 交叉引用:IEC 62047-2购买时可用的所有现行修订均包含在本文件的购买中。 展开▼

相似标准

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号