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METHOD FOR FORMING OHMIC CONTACT TO P-TYPE SILICON CARBIDE

机译:形成对P型碳化硅的欧姆接触的方法

摘要

To provide a method for forming an ohmic contact to a p-type silicon carbide layer (1).SOLUTION: A method for forming an ohmic contact to a p-type silicon carbide layer (1) includes the steps of: providing a p-type silicon carbide layer (1) having a first major surface (18) and a second major surface (19) opposite the first major surface (18); and implanting ions from the first major surface (18) into the p-type silicon carbide layer (1) to form an implanted layer (11) adjacent to the first major surface (18). The method is characterized in that the step of implanting ions into the p-type silicon carbide layer (1) is performed by plasma immersion ion implantation. The p-type silicon carbide layer (1) is immersed in plasma (3) comprising a first ion (31) and a second ion (32), where the first ion (31) is an ionized aluminum atom and the second ion (32) is different from the first ion (31).SELECTED DRAWING: Figure 2
机译:为了提供形成与p型碳化硅层(1)的欧姆接触的方法 型碳化硅层(1)具有第一主表面(18)和与第一主表面(18)相对的第二主表面(19); 并将离子从第一主表面(18)注入到p型碳化硅层(1)中,以形成与第一主表面(18)相邻的注入层(11)。 该方法的特征在于,通过等离子体浸没离子注入来植入p型碳化硅层(1)进入p型碳化硅层(1)的步骤。 P型碳化硅层(1)浸入等离子体(3)中,包括第一离子(31)和第二离子(32),其中第一离子(31)是电离铝原子和第二离子(32 )与第一离子(31)不同。如图2所示

著录项

  • 公开/公告号JP2021125685A

    专利类型

  • 公开/公告日2021-08-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 ABB POWER GRIDS SWITZERLAND AG;

    申请/专利号JP20210008762

  • 发明设计人 GIOVANNI ALFIERI;VINOTH SUNDARAMOORTHY;

    申请日2021-01-22

  • 分类号H01L21/28;H01L21/265;H01L29/861;H01L29/868;H01L21/329;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-24 22:20:01

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