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Method of programming multi-level cell NAND flash memory device and MLC NAND flash memory device

机译:编程多级单元NAND闪存设备和MLC NAND闪存设备的方法

摘要

A method of programming a NAND flash memory device comprises: applying, by a programming voltage generating circuit, an initial programming voltage pulse to a predetermined page of a NAND flash memory; verifying, by the controller, a plurality of verify levels of the predetermined page, the plurality of verify levels being less than a first state verify voltage verifying a lowest program state of the predetermined page; determining, by the controller, a magnitude of a subsequent programming voltage pulse if one of the plurality of verify levels of the predetermined page passes the verify; and the programming voltage generation circuit applying a subsequent programming voltage pulse to the predetermined page.
机译:编程NAND闪存装置的方法包括:通过编程电压产生电路施加初始编程电压脉冲到NAND闪存的预定页面; 通过控制器验证预定页面的多个验证级别,多个验证电平小于验证预定页面的最低节目状态的第一状态验证电压; 通过控制器确定随后的编程电压脉冲的幅度,如果预定页面的多个验证电平中的一个通过验证; 并且编程电压产生电路将随后的编程电压脉冲应用于预定页面。

著录项

  • 公开/公告号KR20210118462A

    专利类型

  • 公开/公告日2021-09-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利号KR20217027688

  • 发明设计人 완 웨이 준;

    申请日2019-05-22

  • 分类号G11C16/10;G11C11/56;G11C16/04;G11C16/34;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-24 21:24:15

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