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SCREENING/ANALYSIS OF FLUOROCARBONS USING X-RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY

机译:使用X射线光电子谱筛选/分析氟碳化合物

摘要

Methods of determining the presence or absence of fluorocarbon(s) on a substrate using X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS). A method may be used to determine the presence or absence of per- or polyfluoroalkyl substances PFASs. A method may use a porous polymer substrate. A method may use solid-phase extraction (SPE). A method may be used to determine the presence or absence of fluorocarbons in an aqueous sample. An aqueous sample may be a groundwater sample, wastewater sample, potable water sample, drinking water sample, or surface water sample. The limit of detection of fluorine in a method may be 0.05% F or less (for XPS analysis) and/or 20 ng or less on a substrate.
机译:使用X射线光电子光谱(XPS)确定在基材上的存在或不存在氟碳的存在或不存在的方法。方法可用于确定每氟氟烷基物质PFASS的存在或不存在。方法可以使用多孔聚合物基材。方法可以使用固相提取(SPE)。可用于确定含水样品中氟碳的存在或不存在。水性样品可以是地下水样品,废水样品,饮用水样品,饮用水样品或地表水样品。在方法中检测氟的检测极限可以是0.05%f或更低(对于XPS分析)和/或底物上的20ng或更少。

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