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NONVOLATILE SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND FABRICATION METHOD OF THE NONVOLATILE SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE

机译:非易失性半导体存储器件和非易失性半导体存储器件的制造方法

摘要

A certain embodiment includes: first wiring layers extended in a first direction arranged in a second direction crossing the first direction; second wiring layers, including two layers having mutually different materials, extended in the second direction arranged in the first direction above the first wiring layers; third wiring layers extended in the first direction arranged in the second direction above the second wiring layers; a first memory cell disposed between one second wiring layer and one first wiring layer between the second and first wiring layers; a second memory cell disposed between one third wiring layer and the one second wiring layer between the third and second wiring layers; a third memory cell disposed between the one second wiring layer and another closest first wiring layer adjacent to the first wiring layer having the first memory cell; and an insulation layer disposed between the first and third memory cells.
机译:某个实施例包括:第一布线层沿第一方向延伸,布置在交叉第一方向的第二方向上;第二布线层,包括具有相互不同材料的两层,在第一布线层上方的第一方向上布置在第二方向上;第三布线层沿第一方向延伸,布置在第二布线层上方的第二方向上;设置在第二和第一布线层之间的一个第二布线层和一个第一布线层之间的第一存储器单元;第二存储器单元设置在第三和第二布线层之间的一个第三布线层和一个第二布线层之间;设置在一个第二布线层和另一个与具有第一存储器单元的第一布线层相邻的另一个最近的第一布线层之间的第三存储器单元;和设置在第一和第三存储器单元之间的绝缘层。

著录项

  • 公开/公告号US2021210556A1

    专利类型

  • 公开/公告日2021-07-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 KIOXIA CORPORATION;

    申请/专利号US202117203110

  • 发明设计人 KOTARO NODA;

    申请日2021-03-16

  • 分类号H01L27/24;H01L45;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-24 19:45:54

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