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Indium phosphide substrate, semiconductor epitaxial wafer, and manufacturing method of indium phosphide substrate

机译:磷化铟基板,半导体外延晶片和磷化铟基底的制造方法

摘要

Problem to be solved: to provide a method of manufacturing an indium phosphide substrate, a semiconductor epitaxial wafer and an indium phosphide substrate in which the warpage of the back surface of the substrate is suppressed well.Solution: an indium phosphide substrate having a main surface for forming an epitaxial crystal layer and a back surface opposite to the main surface, measured on the back side of the phosphide indium phosphide substrate μ An indium phosphide substrate characterized by being M.No selection
机译:要解决的问题:提供一种制造磷化铟基板的方法,半导体外延晶片和磷化镁基板,其中基板的后表面的翘曲很好地抑制。溶液:具有用于形成外延晶体层的主表面的磷化铟基板和与主表面相对的背面,在磷化物铟磷化物基板μ特征在于M的磷化物基板的背面上测量。没有选择

著录项

  • 公开/公告号JP2021091591A

    专利类型

  • 公开/公告日2021-06-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 JX金属株式会社;

    申请/专利号JP20200078636

  • 发明设计人 岡 俊介;栗田 英樹;鈴木 健二;

    申请日2020-04-27

  • 分类号C30B29/40;B24B27/06;B24B37/08;B24B9;B28D5/04;C23C16/18;H01L21/304;H01L21/306;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-24 19:26:15

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