首页> 外国专利> Guard rings for cascode gallium nitride devices

Guard rings for cascode gallium nitride devices

机译:用于共级氮化镓器件的保护环

摘要

Implementations of semiconductor devices may include: a plurality of drain fingers and a plurality of source fingers interdigitated with one another; at least one gate; and at gate bus formed to completely surround the plurality of drain fingers and the plurality of source fingers; wherein the gate bus is mechanically and electrically coupled to the at least one gate.
机译:半导体器件的实施方式可以包括:多个漏极指和彼此互向的多个源指状物;至少一个门;并且在形成为完全围绕多个排水管和多个源指的栅极总线;其中栅极总线机械地耦合到至少一个栅极。

著录项

  • 公开/公告号US10978581B2

    专利类型

  • 公开/公告日2021-04-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SEMICONDUCTOR COMPONENTS INDUSTRIES LLC;

    申请/专利号US201916387874

  • 发明设计人 WOOCHUL JEON;CHUN-LI LIU;ALI SALIH;

    申请日2019-04-18

  • 分类号H01L29/778;H01L29/423;H01L29/06;H01L23/58;H01L23/495;H01L27/088;H01L29/16;H01L29/20;H01L29/40;H01L29/417;H01L29/10;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-24 18:10:46

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号