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Method of performing single event upset testing

机译:执行单一事件镦锻测试的方法

摘要

A system for simulating an event includes a memory system, a parity generator/validator, and a fault injector. The fault injector is configured to inject bits at an address in the memory system when the parity generator/validator is in an disabled state. A method of injecting a fault is also disclosed.
机译:用于模拟事件的系统包括存储器系统,奇偶校验发生器/验证器和故障注射器。故障注射器被配置为当奇偶校验发生器/验证器处于禁用状态时在存储器系统中的地址注入位。还公开了一种注入故障的方法。

著录项

  • 公开/公告号US10956265B2

    专利类型

  • 公开/公告日2021-03-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 HAMILTON SUNDSTRAND CORPORATION;

    申请/专利号US201514612485

  • 发明设计人 STEVEN NOYES;

    申请日2015-02-03

  • 分类号G06F11;G06F11/10;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-24 17:50:40

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