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机译:使用四个探针自动测量半导体电阻率的方法
公开/公告号RU2019129248A
专利类型
公开/公告日2021-03-17
原文格式PDF
申请/专利权人 ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ УНИТАРНОЕ ПРЕДПРИЯТИЕ ВСЕРОССИЙСКИЙ НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ИНСТИТУТ АВТОМАТИКИ ИМ.Н.Л.ДУХОВА (ФГУП ВНИИА) (RU);
申请/专利号RU20190129248
发明设计人 КОЖЕВНИКОВ АНДРЕЙ ЮРЬЕВИЧ (RU);
申请日2019-09-17
分类号G01N27;
国家 RU
入库时间 2022-08-24 17:44:39
机译: 使用四个探针自动测量半导体电阻率的方法
机译: 使用常规四探针半导体电阻率测量仪器的改进型半导体类型测试和电阻率测量的电路附件
机译: 应用四个接触装置进行电阻自动测量的方法以及应用四个探头对半导体的比电阻进行测量的方法