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method of determining the thickness of optical coatings by double microscope

机译:显微镜确定光学涂层厚度的方法

摘要

机译:

著录项

  • 公开/公告号SU102090A1

    专利类型

  • 公开/公告日1954-11-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 KASK K.I.;LANDRA E.K.;

    申请/专利号SU19520451220

  • 发明设计人 LANDRA E.K.;KASK K.I.;

    申请日1952-02-02

  • 分类号G01B11/06;G01B9/04;

  • 国家 SU

  • 入库时间 2022-08-23 23:34:37

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