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机译:测试精密电阻的方法和装置
公开/公告号CA668441A
专利类型
公开/公告日1963-08-13
原文格式PDF
申请/专利权人 REEVES INSTRUMENT CORPORATION;
申请/专利号CAD668441
发明设计人 FRED W. SIMON;
申请日0000-00-00
分类号
国家 CA
入库时间 2022-08-23 17:19:08
机译: 彩色滤光片及其制造方法,相同的光滴材料冲击试验材料彩色滤光片及其制造方法,相同的光滴质和材料制造方法相同的,液滴材料的冲击精度测量方法,光电器件,电子设备,成膜方法和设备
机译: 彩色滤光片及其制造方法相同的光滴材料及其制造方法,彩色滤光片相同材料制造的精密方法液滴材料冲击精度的测量方法光电器件电子设备成膜方法及设备
机译: 彩色滤光片及其制造方法,用于彩色滤光片的液滴材料点蚀精度测试基板及其制造方法,发光基板及其制造方法,用于发光基板的液滴材料点蚀精度测试基板及其制造方法基板,液滴材料点滴精密电光装置的测定方法,电子设备以及成膜方法和装置