首页> 外国专利> Apparatus and method for testing logic circuits and the like by the comparison of test output patterns with preprogrammed standard patterns

Apparatus and method for testing logic circuits and the like by the comparison of test output patterns with preprogrammed standard patterns

机译:通过将测试输出模式与预编程的标准模式进行比较来测试逻辑电路等的设备和方法

摘要

机译:

著录项

  • 公开/公告号US3302109A

    专利类型

  • 公开/公告日1967-01-31

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION;

    申请/专利号US19620244153

  • 发明设计人 JONES HAROLD E.;

    申请日1962-12-12

  • 分类号G01R31/319;G06F7/02;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-23 13:48:33

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号