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METHOD AND APPARATUS FOR TESTING CIRCUITS BY MEASURING SECONDARY EMISSION ELECTRONS GENERATED BY ELECTRON BEAM BOMBARDMENT OF THE PULSED CIRCUIT

机译：通过测量脉冲电路的电子束轰击产生的二次发射电子来测试电路的方法和装置

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公开/公告号US3549999A

专利类型
公开/公告日1970-12-22

原文格式PDF
申请/专利权人 GENERAL ELECTRIC CO.;
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申请/专利号USD3549999
发明设计人 JAMES F. NORTON;
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申请日1968-06-05
分类号G01R31/22;G01R31/02;
国家 US
入库时间 2022-08-23 09:11:22

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