用于自动测试半成品-导体复合体的设备。 p> & &该组件中的逻辑功能和模拟通过适配器50进行测试,该适配器50耦合到多个测试逻辑并由处理单元控制。适配器提供电气环境,以适应一系列组件以测试逻辑和模拟,它允许适应多个通电单元的阻抗和通过多路复用器36、38在所经历的组件范围内连接的响应26进行测试。 p> & &使得可以同时进行大量测试,并且可以应用于执行逻辑和模拟功能的复杂组件的测试。 p>
公开/公告号FR2360889A1
专利类型
公开/公告日1978-03-03
原文格式PDF
申请/专利号FR19770020040
申请日1977-06-21
分类号G01R31/26;
国家 FR
入库时间 2022-08-22 21:45:30