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Tracer control apparatus for, and a method of machining in, a tracer machining system

机译:用于示踪剂加工系统的示踪剂控制装置及其加工方法

摘要

Tracer control apparatus, for a tracer machining system, has a memory storing position A, along the PICKFEED AXIS, of the first clamping feed in initial tracing of a clamping feed area H1 and position B at which clamping feed is absent after initial tracing of area H1.;Using the stored positions the apparatus causes repeat tracings back and forth between A and B.;Clamping level setting means 11 to 15 set an initial clamping level LCZ for clamping feeds in initial tracing of area H1, and add increments inc to that level for successive repeat tracings.;Only when the incremented clamping level is not reached in a repeat tracing, or the incremented level reaches a limit value, does tracing proceed beyond area H1. The clamping level is set back to its initial value.;A method of machining is provided in which repeat tracing is carried out only in areas where required, e.g. H1, in dependence upon stored positions A and B and incrementing clamping levels.
机译:用于示踪剂加工系统的示踪剂控制装置具有一个沿PICKFEED AXIS的存储器,该位置在初始进给一个夹紧进给区域H1时沿第一进给夹紧器的位置存储,并且在位置B的初始跟踪之后不存在夹紧进给的位置B H1;使用存储的位置,设备在A和B之间来回重复跟踪。夹紧水平设定装置11至15设置初始夹紧水平LCZ,用于在区域H1的初始跟踪中夹紧进给,并增加增量inc仅当在重复跟踪中未达到增加的钳位水平或增加的水平达到极限值时,跟踪才进行到区域H1之外。夹紧水平恢复到其初始值。提供一种加工方法,其中仅在需要的区域(例如,工件表面)进行重复跟踪。 H1,取决于存储的位置A和B和递增的夹紧水平。

著录项

  • 公开/公告号EP0014563A2

    专利类型

  • 公开/公告日1980-08-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 FANUC LTD.;

    申请/专利号EP19800300276

  • 发明设计人 SASAKI TAKAO;YAMAZAKI ETUO;IMAZEKI RYOJI;

    申请日1980-01-30

  • 分类号B23Q35/12;B23Q15/00;G05B19/18;G05D3/00;

  • 国家 EP

  • 入库时间 2022-08-22 17:56:43

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