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MULTI-BIT READ ONLY MEMORY CELL SENSING CIRCUIT

机译:多位只读存储器单元检测电路

摘要

Multi-bit read only memory sensing circuit (10). A plurality of storage transistros (30, 32, 34, 36) are arranged in rows (28) and columns (20, 22) and each have a predefined permanent threshold voltage. A plurality of reference transistors (40, 42, 44) are provided. Circuitry (100, 102, 104, 106) is provided for selectively comparing the output voltage of ones of the plurality of reference transistors (40, 42, 44) to the output voltage of the plurality of storage transistors (30, 32, 34, 36) to thereby determine the voltage level stored in each of the plurality of strorage transistors (30, 32, 34, 36).
机译:多位只读存储器感测电路(10)。在行(28)和列(20、22)中布置有多个存储晶体管(30、32、34、36),并且每个存储晶体管都具有预定的永久阈值电压。提供了多个参考晶体管(40、42、44)。提供电路(100、102、104、106)以选择性地将多个参考晶体管(40、42、44)中的一个的输出电压与多个存储晶体管(30、32、34,从而确定存储在多个存储晶体管(30、32、34、36)的每一个中的电压电平。

著录项

  • 公开/公告号WO8202276A1

    专利类型

  • 公开/公告日1982-07-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 MOSTEK CORPORATION;JIANG CHING-LIN;

    申请/专利号WO1980US01723

  • 发明设计人 JIANG CHING-LIN;

    申请日1980-12-24

  • 分类号G11C7/06;G11C17/00;

  • 国家 WO

  • 入库时间 2022-08-22 13:11:12

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