退出
我的积分:
中文文献批量获取
外文文献批量获取
机译:用于确定表面质量的光电测量方法和设备是散射反射表面
公开/公告号DE3037622A1
专利类型
公开/公告日1982-04-22
原文格式PDF
申请/专利权人 THURN GERHARD DIPL.-ING.;GAST THEODOR PROF. DR.-ING. 1000 BERLIN DE;
申请/专利号DE19803037622
发明设计人 THURN GERHARD DIPL.-ING.;GAST THEODOR PROF. DR.-ING. 1000 BERLIN DE;
申请日1980-10-04
分类号G01B11/30;G01N21/55;
国家 DE
入库时间 2022-08-22 12:42:00
机译: 确定反射或透明表面的光电子测量方法和装置。
机译: 保持部件,暂存设备,反射部件,反射设备,测量设备,曝光设备,设备制造方法,改变板状表面形状的方法,曝光方法,改变反射表面形状的方法以及反射表面的方法
机译: 确定漫反射表面质量的光电测量方法和装置