退出
我的积分:
中文文献批量获取
外文文献批量获取
机译:反射光度计,用于测量超光滑表面粗糙度参数
公开/公告号SU987381A1
专利类型
公开/公告日1983-01-07
原文格式PDF
申请/专利权人 VNII METROLOGICHESKOJ SLUZHBY;
申请/专利号SU19813333763
发明设计人 SOLODUKHO FAINA MSU;POPOV YURIJ NSU;OBRADOVICH KIRA ASU;
申请日1981-08-20
分类号G01B11/30;
国家 SU
入库时间 2022-08-22 10:16:48
机译: 测量超光滑表面粗糙度的方法
机译: 表面粗糙度形状参数设定方法及表面粗糙度形状测量机
机译: 具有反射率仪和粗糙度传感器的发射率校正辐射热积分仪,可对真实表面温度进行远程测量