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EMISSIVITY CORRECTED RADIATION PYROMETER INTEGRAL WITH A REFLECTOMETER AND ROUGHNESS SENSOR FOR REMOTE MEASURING OF TRUE SURFACE TEMPERATURES

机译:具有反射率仪和粗糙度传感器的发射率校正辐射热积分仪,可对真实表面温度进行远程测量

摘要

An instrument that measures reflectivity, temperature and roughness of a substrate in a processing chamber remotely, without interfering with the process. The roughness of the substrate is estimated on the basis of depolarization measurements. The instrument automatically corrects for emissivity changes.
机译:一种在不干扰工艺的情况下远程测量处理室中基板的反射率,温度和粗糙度的仪器。基于去极化测量来估计基板的粗糙度。仪器会自动校正发射率的变化。

著录项

  • 公开/公告号WO2004010094A1

    专利类型

  • 公开/公告日2004-01-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 LUXTRON CORPORATION;

    申请/专利号WO2003US21835

  • 发明设计人 CHAMPETIER ROBERT J.;

    申请日2003-07-11

  • 分类号G01J5/58;G01J5/00;

  • 国家 WO

  • 入库时间 2022-08-21 22:58:46

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