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TEST PATTERNS FOR MEASUREMENT OF FREQUENCY CHARACTERISTICS OF PHOTOCHEMICAL SENSITIVE MATERIALS

机译：光化学敏感材料频率特征的测试模式

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机译：

著录项

  • 公开/公告号CS224765B1

    专利类型

  • 公开/公告日1984-01-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 HOLAN JIRI RNDR.CS;

    申请/专利号CS19810008899

  • 发明设计人 HOLAN JIRI RNDR.CS;

    申请日1981-12-01

  • 分类号G03C5/02;

  • 国家 CS

  • 入库时间 2022-08-22 09:22:41

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