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exploratory electron microscope for displaying a elektronenbeeld cycles.

机译:探测电子显微镜,用于显示电子周期。

摘要

机译:

著录项

  • 公开/公告号NL177161B

    专利类型

  • 公开/公告日1985-03-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利号NL19740009907

  • 发明设计人

    申请日1974-07-23

  • 分类号H01J37/28;

  • 国家 NL

  • 入库时间 2022-08-22 08:14:41

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