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机译:探测电子显微镜,用于显示电子周期。
公开/公告号NL177161B
专利类型
公开/公告日1985-03-01
原文格式PDF
申请/专利权人 NIHON DENSHI KABUSHIKI KAISHA TE AKISHIMA JAPAN.;
申请/专利号NL19740009907
发明设计人
申请日1974-07-23
分类号H01J37/28;
国家 NL
入库时间 2022-08-22 08:14:41
机译: 探测电子显微镜,用于显示电子周期。
机译: 探索性环境电子显微镜。
机译: 探索电子显微镜。