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LOW TEMPERATURE PROCESS FOR DEPOSITING OXIDE LAYERS BY PHOTOCHEMICAL VAPOR DEPOSITION

机译:光化学气相沉积法沉积氧化物层的低温过程

摘要

The specification discloses a low temperature process for depositing oxide layers on a substrate by photochemical vapor deposition, by exposing the substrate to a selected vapor phase reactant in the presence of photo-chemically generated neutral (un-ionized) oxygen atoms. The oxygen atoms react with the vapor phase reactant to form the desired oxide, which deposits as a layer on the substrate. The use of photochemically generated neutral oxygen atoms avoids damage to the substrate due to charge bombardment or radiation bombardment of the substrate. The deposited oxide layer may optionally incorporate a selected dopant material in order to modify the physical, electrical, or optical characteristics of the oxide layer.
机译:该说明书公开了一种通过在光化学产生的中性(非电离)氧原子的存在下将衬底暴露于选择的气相反应物来通过光化学气相沉积在衬底上沉积氧化物层的低温工艺。氧原子与气相反应物反应形成所需的氧化物,该氧化物作为一层沉积在基材上。光化学产生的中性氧原子的使用避免了由于电荷轰击或辐射轰击基板而对基板造成的损坏。沉积的氧化物层可任选地掺入选择的掺杂剂材料,以改变氧化物层的物理,电或光学特性。

著录项

  • 公开/公告号SG33584G

    专利类型

  • 公开/公告日1985-02-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 HUGHES AIRCRAFT CO;

    申请/专利号SG19840000335

  • 发明设计人

    申请日1984-04-25

  • 分类号H01L21/205;H01L21/225;H01L21/268;

  • 国家 SG

  • 入库时间 2022-08-22 08:12:02

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