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ARRANGEMENT FOR CONTACTLESS MEASUREMENT OF POLISHED SURFACE PROFILE

机译：接触表面粗糙度的无接触测量

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1.device for the contact less measurement of профш1я polished surfaces containing the node базировани controlled parts, the platform, the mechanism of linear pe ремещени platformthe linear перемещен

机译：1.用于非接触式测量的抛光设备的设备，该设备包含节点可控部件，平台，线性PE平台的机理，线性перемещен

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公开/公告号SU1186942A1

专利类型
公开/公告日1985-10-23

原文格式PDF
申请/专利权人 SHISHLOV EVGENIJ ASU;ELISEEV GEORGIJ KSU;PANKOV ERNST DSU;RYUKHIN VLADIMIR VSU;
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申请/专利号SU19833604584
发明设计人 PANKOV ERNST DSU;RYUKHIN VLADIMIR VSU;SHISHLOV EVGENIJ ASU;ELISEEV GEORGIJ KSU;
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申请日1983-06-10
分类号G01B11/24;
国家 SU
入库时间 2022-08-22 07:59:12

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