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机译:醉半微量测定仪
公开/公告号KR860007269U
专利类型
公开/公告日1986-07-10
原文格式PDF
申请/专利权人 린나이코리아 주식회사;린나이 가부시기 갸이샤;
申请/专利号KR19850015028U
发明设计人 오오아끼 슈우시;
申请日1985-11-15
分类号A47J27/086;
国家 KR
入库时间 2022-08-22 07:34:39
机译: 确定功率半导体器件对微电流正向脉冲作用的抵抗的方法
机译: 用于确定半导体中外延层厚度的微电子装置
机译: 用于确定半导体中电荷载体寿命的微电子装置