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Verfahren zur prozessbegleitenden Charakterisierung von Substratkristallen und Kristallscheiben aus CdTe, (Cd,ZN)Te, Cd(Te,Se)

机译:对CdTe,(Cd,ZN)Te,Cd(Te,Se)制成的衬底晶体和圆盘进行过程表征的方法

摘要

机译:

著录项

  • 公开/公告号DD270851A3

    专利类型

  • 公开/公告日1989-08-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 UNIV BERLIN HUMBOLDT;

    申请/专利号DD19870301938

  • 发明设计人 WERMKE BURKHARD;

    申请日1987-04-20

  • 分类号H01L21/465;H01L31/18;

  • 国家 DD

  • 入库时间 2022-08-22 06:39:57

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