首页> 外国专利> METHOD OF INVESTIGATING MICROSTRUCTURE OF SAMPLE

METHOD OF INVESTIGATING MICROSTRUCTURE OF SAMPLE

机译:研究样品微观结构的方法

摘要

the invention u043eu0442u043du043eu0441u0438u0442u0441u00a0 to u043cu0435u0442u0430u043bu043bu043eu0433u0440u0430u0444u0438u0438, in particular to a method u0438u0437u043cu0435u0440u0435u043du0438u00a0 scalings and defects in the surface, and can be used in the iron and steel industrial u044bu0448u043bu0435u043du043du043eu0441u0442u0438 u0434u043bu00a0 optical u043au043eu043du0442u0440u043eu043bu00a0 surface microrelief technology well and u043cu0438u043au0440u043eu043au0440u0438u0441u0442u0430u043bu043bu0438u0447u0435u0441u043au0438u0445 ribbons.the purpose of u0438u0437u043eu0431u0440u0435u0442u0435u043du0438u00a0 -- improving the coverage performance u0438u0441u0441u043bu0435u0434u043eu0432u0430u043du0438u00a0 technological microrelief contact surface and the contact and the n well u0435u0448u043du0435u0439 surfaces u043cu0438u043au0440u043eu043au0440u0438u0441u0442u0430u043bu043bu0438u0447u0435u0441u043au0438u0445 ribbons obtained rapid u0437u0430u043au0430u043bu043au043eu0439 from melt.through the different u0443u0440u043eu0432u043du00a0 u0444u043eu0440u043cu0438u0440u043eu0432u0430u043du0438u00a0 heterogeneity characterization in the depth of surface u0441u043bu043eu00a0 bands and small depth of sharpness triumph of image space of the optical micro osprey. establish the model on the object table light microscope and focus the microscope to u043fu043eu043bu0443u0447u0435u043du0438u00a0 u0438u0437u043eu0431u0440u0430u0436u0435u043du0438u00a0 specimen surface.before u0444u043eu043au0443u0441u0438u0440u043eu0432u043au043eu0439 microscope u0432u044bu043fu043eu043bu043du00a0u044eu0442 u043du0435u0434u043eu0444u043eu043au0443u0441u0438u0440u043eu0432u043au0443 to u043fu043eu043bu0443u0447u0435u043du0438u00a0 u0438u0437u043eu0431u0440u0430u0436u0435u043du0438u00a0 white u0440u0443u0447u0435u0438u0441u0442u043eu0433u043e pattern u043du0435u043au043eu043du0442u0430u043au0442u0430,after the automatic focusing microscope u0432u044bu043fu043eu043bu043du00a0u044eu0442 u043fu0435u0440u0435u0444u043eu043au0443u0441u0438u0440u043eu0432u043au0443 to u043fu043eu043bu0443u0447u0435u043du0438u00a0 u0438u0437u043eu0431u0440u0430u0436u0435u043du0438u00a0 u043cu0438u043au0440u043eu0441u0442u0440u0443u043au0442u0443u0440u044b recessions u043du0435u043au043eu043du0442u0430u043au0442u0430 bottom and three u0438u0437u043eu0431u0440u0430u0436u0435u043du0438u00a0u043c u0441u0443u0434u00a0u0442 of techno the logical u043cu0438u043au0440u043eu0440u0435u043bu044cu0435u0444u0435 contact surface of the ribbons and evaluate its roughness and the contact area with the surface of the disk u0437u0430u0441u0442u044bu0432u0430u044eu0449u0435u0433u043e melt u0437u0430u043au0430u043bu043eu0447u043du043eu0433u043e vib u0440u0444u043du043eu0439 and u043cu0438u043au0440u043eu043au0440u0438u0441u0442u0430u043bu043bu0438u0447u0435u0441u043au043eu0439 ribbonsa microstructure study at different depths from the external surface microrelief u043cu0438u043au0440u043eu043au0440u0438u0441u0442u0430u043bu043bu0438u0447u0435u0441u043au0438u0445 ribbons. 5).
机译:特别是本发明 u043e u0442 u043d u043e u0441 u0438 u0442 u0441 u00a0至 u043c u0435 u0442 u0430 u043b u043b u043e u0433 u0440 u0430 u04430 u0444 u0438 u0438方法 u0438 u0437 u043c u0435 u0440 u0435 u043d u0438 u00a0表面的结垢和缺陷,可用于钢铁工业 u044b u0448 u043b u0435 u043d u043d u043e u0441 u0442 u0438 u0434 u043b u00a0光学 u043a u043e u043d u043d u0442 u0440 u043e u043b u00a0表面微浮雕技术良好,并且 u043c u0438 u043a u0440 u043e u043a u04a u0438 u0441 u0442 u0430 u043b u043b u0438 u0447 u0435 u0441 u043a u0438 u0445色带.u0438 u0437 u043e u0431 u0440 u04340 u0435 u0442 u0435 u043d u0438 u00a0-提高覆盖性能 u0438 u0441 u0441 u043b u0435 u0434 u043e u0432 u0430 u043d u0438 u00a0技术微浮雕接触面和触点及n孔 u0435 u0448 u043d u0435 u0439曲面 u043c u0438 u043a u0440 u043e u043a u0440 u0438 u0441 u0442 u0430 u0 43b u043b u0438 u0447 u0435 u0441 u043a u0438 u0445碳带从熔体中通过不同的 u0443 u0440 u043e u0432获得了快速的 u0437 u0430 u043a u0430 u043b u043a u043e u0439 u043d u00a0 u0444 u043e u0440 u043c u0438 u0440 u043e u0432 u0430 u043d u0438 u00a0表面深度中的异质性特征 u0441 u043b u043e u00a0色带和小深度清晰度微鱼鹰的图像空间的大小。在物台光学显微镜上建立模型并将显微镜聚焦到 u043f u043e u043b u0443 u0447 u0435 u043d u043d u00a0 u0438 u0437 u043e u0431 u0440 u0430 u0430 u0436 u0435 u043d u0438 u00a0标本表面。 u0444 u043e u043a u0443 u0441 u0438 u0440 u043e u0432 u043a u043e u0439显微镜 u0432 u044b u043b u043f u043e u043e u043b u043d u00a0 u044e u0442 u043d u0435 u0434 u043e u0444 u043e u043a u0443 u0441 u0438 u0440 u043e u0432 u043a u0443至 u043f u043e u043b u043b u0443 u0447 u0435 u043d u0438 u0438 u0437 u043e u0431 u0440 u0430 u0436 u0435 u043d u0434 u0447 u0435 u0438 u0441 u0442 u0442 u043e u0433 u043e模式 u043d u0435 u043e u043d u0442 u0430 u043a u0442 u0430之后,自动聚焦显微镜 u0432 u044b u043f u043e u043b u043d u043d u00a0 u044e u0442 u043f u0435 u0440 u0435 u0444 u043e u043a u0443 u0441 u0438 u0440 u043e u0432 u043a u0443至 u043f u043e u043b u0443 u0447 u0435 u043d u0438 u00a0 u0438 u0437 u043e u0431 u0440 04 30 u0436 u0435 u043d u0438 u00a0 u043c u0438 u043a u0440 u043e u0441 u0442 u0440 u0443 u043a u0442 u0443 u0440 u044b经济衰退 u043d u0435 u043a u043a u043e u0442 u0430 u043a u0442 u0430底部和三个 u0438 u0437 u043e u0431 u0431 u0440 u0430 u0436 u0435 u043d u043d u0438 u00a0 u043c u0441 u0443 u0434 u00a0 u0442逻辑 u043c u0438 u043a u0440 u043e u0440 u0435 u043b u044c u0435 u0444 u0435碳带的接触面并评估其粗糙度和与磁盘表面的接触面积 u0437 u0430 u0441 u0442 u044b u0432 u0430 u044e u0449 u0435 u0433 u043e融化 u0437 u0430 u043a u0430 u043b u043e u0447 u043d u043e u0433 u043e vib u0440 u0444 u0434 u043d u0439和 u043c u0438 u043a u0440 u043e u043a u0440 u0438 u0441 u0442 u0430 u043b u043b u0438 u0447 u0435 u0431 u0431 u043a u043e u0439 Ribbonu的显微结构来自不同深度外表面微浮雕 u043c u0438 u043a u0440 u043e u043a u0440 u0438 u0441 u0442 u0430 u043b u043b u0438 u0447 u0 435 u0441 u043a u0438 u0445色带。 5)。

著录项

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号