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method for trace analyses of phosphorus in chlorsilanen

机译:氯硅烷中磷的痕量分析方法

摘要

机译:

著录项

  • 公开/公告号DD250185B3

    专利类型

  • 公开/公告日1991-01-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 NUENCHRITZ CHEMIE DE;

    申请/专利号DD19860291625

  • 发明设计人 PRIETZ URSULA DE;

    申请日1986-06-25

  • 分类号G01N21/25;

  • 国家 DD

  • 入库时间 2022-08-22 05:59:18

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