机译:微晶厚度确定。在聚合物中-通过偏转穿过小聚合物样品的可见光w.r.t.温度,测量光强度变化并计算厚度分布
公开/公告号DE4102807A1
专利类型
公开/公告日1992-08-06
原文格式PDF
申请/专利权人 LEUNA-WERKE AG O-4220 LEUNA DE;
申请/专利号DE19914102807
发明设计人 WEYHE GOTTFRIED O-4200 MERSEBURG DE;DALCOLMO HANS-JOACHIM O-4090 HALLE-NEUSTADT DE;PIETZSCH HANS-RAINER DR. O-4200 MERSEBURG DE;
申请日1991-01-31
分类号G01N33/44;G01N21/41;G01N15/02;G01N25/04;G01N21/21;
国家 DE
入库时间 2022-08-22 05:25:42