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CHARGE ALLOTTING METHOD FOR CHARGE PARTICLE IN PARTICLE MODEL DEVICE SIMULATION

机译:粒子模型设备仿真中的电荷分配方法

摘要

PURPOSE:To ensure the adaptation to an optional grating structure. CONSTITUTION:When a Poisson equation is solved for acquisition of an electric field in a semiconductor device, the particles are produced around a charge particle 11 in a proper distribution (as shown in small squares). Then the charge of the particle 11 is allotted to each grating point (shown in black work) in accordance with the number of particles included in a cell to which the grating points used the numerical calculations belong.
机译:目的:确保适应可选的光栅结构。组成:当求解泊松方程以获取半导体器件中的电场时,会在电荷粒子11周围以适当的分布(如小方块所示)生成粒子。然后,根据数值计算所使用的光栅点所属的单元中所包括的粒子的数量,将粒子11的电荷分配给每个光栅点(以黑体表示)。

著录项

  • 公开/公告号JPH05189405A

    专利类型

  • 公开/公告日1993-07-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SHARP CORP;

    申请/专利号JP19920021981

  • 发明设计人 KAWAZOE TOSHIYA;

    申请日1992-01-09

  • 分类号G06F15/20;G06F15/32;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-22 05:16:31

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