device for the characterization of dielectric properties of flat or non flat samples of material and use thereof for non-destructive control of materialeprøvernes overfladehomogenitet

机译： 平板或非平板表面样品材料的介电特性的装置，并用于非破坏性控制样品的均质性。

机译： 用于表征样品介电特性（无论其表面是否平坦）的设备，用于对样品的介电均匀性进行无损检测。

机译： 用于对由具有平坦或不平坦表面的材料制成的样品进行介电表征的装置，以及用于无损控制所述样品的介电均匀性的装置