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Method of increasing the layout efficiency of dies on a wafer, and increasing the ratio of I/O area to active area per die

机译:增加晶片上管芯的布局效率并增加每个管芯的I / O面积与有效面积之比的方法

摘要

Certain non-square dies, such as triangular dies (e.g. 202a, 202b,...), greatly elongated rectangular dies, parallelogram dies, trapezoidal, and the like, are able to be laid out in the area of a circular semiconductor wafer (204) more "efficiently" than square dies. Further, a peripheral area of these certain non-square dies is advantageously increased relative to the area contained within the peripheral area, to accommodate increased I/O connections to the active elements of the die (202a, 202b,...).
机译:某些非正方形管芯,例如三角形管芯(例如202a,202b,...),极大伸长的矩形管芯,平行四边形管芯,梯形等,可以放置在圆形半导体晶圆的区域中( 204)比方形模具更“有效”。此外,相对于包含在该外围区域内的区域,有利地增加了这些某些非正方形芯片的外围区域,以适应与芯片的有源元件(202a,202b,...)的增加的I / O连接。

著录项

  • 公开/公告号EP0583625A3

    专利类型

  • 公开/公告日1994-08-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 LSI LOGIC CORPORATION;

    申请/专利号EP19930111442

  • 发明设计人 ROSTOKER MICHAEL D.;

    申请日1993-07-16

  • 分类号H01L21/78;H01L27/02;

  • 国家 EP

  • 入库时间 2022-08-22 04:39:15

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