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Fabrication of Lower Layer Oxide Film of 3-layer Composite Dielectric Film

机译:三层复合介电膜下层氧化膜的制备

摘要

The present invention relates to a method for manufacturing a lower oxide film of a three-layer composite structure dielectric film made of ONO (Oxide-Nitride-Oxide)2Layer composite structure dielectric film, wherein an oxide film is formed by using only pure air flow without using a pure air flow. In this method, since an oxide film is formed by controlling the flow and intensity of air, It is a method of manufacturing a lower oxide film of a three-layer composite structure dielectric film which can prevent consumption and loss of material, obtain uniformity of oxide film, and have a high yield of 97% or more even in the result of CCST (Constant Current Strength Test).
机译:本发明涉及一种由ONO(氧化物-氮化物-氧化物) 2 层复合结构介电膜制成的三层复合结构介电膜的下部氧化物膜的制造方法,其中氧化物膜通过仅使用纯空气流而不使用纯空气流来形成。在该方法中,由于通过控制空气的流量和强度来形成氧化膜,因此是一种三层复合结构介电膜的下层氧化膜的制造方法,该三层复合结构介电膜可以防止材料的消耗和损失,获得均匀性。氧化膜,即使在CCST(恒流强度测试)的结果下也具有97%或更高的高产率。

著录项

  • 公开/公告号KR940022745A

    专利类型

  • 公开/公告日1994-10-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 김주용;

    申请/专利号KR19930004618

  • 发明设计人 구명권;

    申请日1993-03-24

  • 分类号H01L21/316;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-22 04:37:22

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